HOME

PRODUSE

SERVICII

CONTACT

Genius 3000/5000/7000/9000 spectrometre portabile XRF care pot determina in 5 pana la 30 de secunde COMPOZITIA CHIMICA a aliajelor metalice, solurilor poluate cu metale grele, minereurilor metalifere si conformitatea cu norma RoHs fara pregatirea probei, fara consumabile.

GPS si camera CMOS HD incluse.

Elemente analizate : de la Mg la U.

X-MET-5000 DEMO UNIT spectrometru portabil XRF care poate determina in 5 pana la 30 de secunde COMPOZITIA CHIMICA a aliajelor metalice fara pregatirea probei, fara consumabile.

Analizor de grosimi si compozitie straturi

-Platforma 3D motorizata,autofocus,detector SDD -Acoperire cu Zn, Ni, Cr, Cu, Ag, Au, Sn etc.
-Acoperire cu aliaj binary precum: SnPb, ZnNi si NiP
-Acoperire cu aliaj ternary, precum AuCdCu pe Ni.
-Acoperire cu strat dublu cum ar fi: Au/Ni pe Cu, Cr/Ni pe Cu, Au/Ag pe Ni, Sn/Cu pe a lama, etc.
-Acoperire dubla cu un element peste un strat de aliaj, totul pe support de Fe sau de plastic, ex. Cr/NiCu pe plastic sau pe fier.
-Acoperiri multistrat , pana la 5 straturi maxim.
- Analiza aliajelor metalice, pana la 24 de elemente.
-Analiza ionilor din solutii pentru bai de depunere galvanica.

Alte analizoare XRF

PENDUL CHARPY JBW-300 cu afisaj digital, ridicare motorizata si control prin PC

MASINA DE INCERCARI MECANICE WDW-E300

servo-electromecanica, automata

Microscop metalografic MEC2-NIM100 cu anexe pentru analiza automata de imagini

OKOS

Aparate pentru controlul nedistructiv automat cu ultrasunete

Spectrometru cu emisie optica portabil