|
|
|
|
Analizoare de laborator si Control de calitate pentru masurarea grosimii si compozitiei acoperirilor |
||
| EDX600:Pentru analiza bijuteriilor din aur |
Elemente masurabile: Au, Ag, Pt, Pd, Cu Precizia masuratorii: 0,05% Repetabilitatea: 0,1%
|
![]() |
| Thick800A:Pentru analiza compozitiei (K-U) si grosimii straturilor (maxim 5) |
Elemente masurabile: simultan max. 24 de la K la U Detector Si-Pin Aliniere cu laser Camera probei mare Limita de detectie: 2 ppm Grosimea minima de strat: 10 nanometri PC extern |
![]() |
| NX8089:Pentru analiza compozitiei (K-U) si grosimii straturilor |
Detector SDD si SmartDMCA produs de Amptek-SUA caracteristici de exceptie: Precizia pe domenii
de concentratii: |
![]() |