Ingineria testării și analizei materialelor

EXPLORER spectrometre portabile XRF care pot determina în 5 până la 30 de secunde COMPOZIȚIA CHIMICĂ a aliajelor metalice, solurilor poluate cu metale grele, minereurilor metalifere și conformitatea cu norma RoHs fără pregătirea probei, fără consumabile.

GPS și camera CMOS HD incluse.

Elemente analizate : de la Mg la U.

Detalii

X-MET-5000 DEMO UNIT spectrometru portabil XRF care poate determina în 5 până la 30 de secunde COMPOZIȚIA CHIMICĂ a aliajelor metalice fără pregătirea probei, fără consumabile.

Analizor de grosimi și compoziție straturi

-Platformă 3D motorizată,autofocus,detector SDD -Acoperire cu Zn, Ni, Cr, Cu, Ag, Au, Sn etc.
-Acoperire cu aliaj binary precum: SnPb, ZnNi și NiP
-Acoperire cu aliaj ternary, precum AuCdCu pe Ni.
-Acoperire cu strat dublu cum ar fi: Au/Ni pe Cu, Cr/Ni pe Cu, Au/Ag pe Ni, Sn/Cu pe alamă, etc.
-Acoperire dublă cu un element peste un strat de aliaj, totul pe support de Fe sau de plastic, ex. Cr/NiCu pe plastic sau pe fier.
-Acoperiri multistrat , până la 5 straturi maxim.
- Analiza aliajelor metalice, până la 24 de elemente.
-Analiza ionilor din soluții pentru băi de depunere galvanică.

Alte analizoare XRF

Detalii

PENDUL CHARPY JBW-300 cu afișaj digital, ridicare motorizată și control prin PC

Detalii

MAȘINA DE ÎNCERCĂRI MECANICE WDW-E300

servo-electromecanică, automată

Detalii

Microscop metalografic MEC2-NIM100 cu anexe pentru analiza automată de imagini

Detalii

Spectrometre cu emisie optică fixe MINILAB 150 / 300

Detalii

OKOS

Aparate pentru controlul nedistructiv automat cu ultrasunete

Spectrometru cu emisie optică mobil E3 ESAPORT

Detalii