Analizoare pentru grosimea și compoziția acoperirilor

Analizoare de laborator și Control de calitate pentru măsurarea grosimii și compoziției acoperirilor

• EDX600:Pentru analiza bijuteriilor din aur
• Elemente măsurabile: Au, Ag, Pt, Pd, Cu
• Precizia măsurătorii: 0,05%
• Repetabilitatea: 0,1%

• Thick800A:Pentru analiza compoziției (K-U) și grosimii straturilor (maxim 5)
• Elemente măsurabile: simultan max. 24 de la K la U

Detector Si-Pin

Aliniere cu laser

Camera probei mare

• Limita de detecție: 2 ppm
• Grosimea minimă de strat: 10 nanometri

PC extern

• NX8089:Pentru analiza compoziției (K-U) și grosimii straturilor
• Detector SDD și SmartDMCA produs de Amptek-SUA

caracteristici de excepție

Precizia pe domenii de concentrații:
0.001-0.005% la 99.99%
0.007-0.02% de la 99.7% până la 99.99%
0.01-0.05 de la 99% până la 99.7%
0.02-0.05% de la 96% până la 99%
0.05-0.2% sub 96%